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晶体管特性图示仪是一种能对晶体管的特性参数进行测试的仪器。
荧光屏的刻度可以直接观测半导体管的共集电极,共基板和共发射极的输入特性,输出特征,转换特征,β参数以及α参数等,并可根据需要,测量半导体管的其他各项极限特性与击穿特性参数。
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